R&D, produits et sous-traitance

À la recherche des solutions de demain

Par |2021-09-01T00:00:00+02:0001/09/21|Circuits électroniques et opto-électroniques, microconnectique, interfaçage, prototypage de circuits, Conception, Développement, Industrialisation de modules et de micro-systèmes micromécaniques et/ou microélectroniques, Conception, développement, industrialisation INTÉGRÉE de modules et de micro-systèmes micromécaniques et/ou microélectroniques, Ingéniérie, recherche et transfert de technologies microtechniques, Microactionneurs, microcapteurs et micro-afficheurs, Packaging, microconnectique, interfaçage, assemblage, circuits imprimés, R&D, produits et sous-traitance|

L’institut de recherche technologique (IRT) Nanoelec est un consortium d’acteurs [...]

Des machines-outils productives et robotisables

Par |2021-05-01T00:00:00+02:0001/05/21|Machines et leurs équipements, Mécanique de précision, Prestations de services pour l'industrie, R&D, produits et sous-traitance, Usinage, micro-usinage|

C'est dans le cadre de Journées Techniques organisées dans ses [...]

Fabrication additive à grande vitesse

Par |2021-05-01T00:00:00+02:0001/05/21|Conception, Développement, Industrialisation de modules et de micro-systèmes micromécaniques et/ou microélectroniques, Fabrication additive, R&D, produits et sous-traitance, Usinage, micro-usinage|

Les imprimantes industrielles qui fabriquent par extrusion filamentaire (Fused Filament [...]

Système de numérisation flexible et économique

Par |2021-05-01T00:00:00+02:0001/05/21|Machines et leurs équipements, Métrologie - mesure - contrôle, R&D, produits et sous-traitance, Robotique et Automatisation (Conception et réalisation)|

Les exigences d'un système de numérisation peuvent varier énormément en [...]

Un capteur radar hyper-précis

Par |2021-05-01T00:00:00+02:0001/05/21|Mécanique de précision, Métrologie - mesure - contrôle, Microactionneurs, microcapteurs et micro-afficheurs, R&D, produits et sous-traitance, Usinage, micro-usinage|

Ni la poussière ni les grandes portées de mesure ne [...]

Aller en haut